PALS技術（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布魯克海文儀器公司開(kāi)發(fā)的一項Zeta電位測量技術，與傳統基于頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高約1000倍。許多從事(shì)新材料、生命科學(xué)、環境工程等新興學(xué)科的研究人員長(cháng)期以來苦于無法對(duì)諸如在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近這(zhè)些測量條件下的樣(yàng)品進(jìn)行分析，這(zhè)就(jiù)是因爲其電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統方法沒(méi)有足夠的靈敏度進(jìn)行測量，ZetaPALS的出現爲他們提供了準确可信的測量技術。

                                                                            簡單的計算即可說(shuō)明硬件PALS技術的優越性：

納米粒度測量部分使用動态光散射技術（Dynamic Light Sacttering, DLS)：

        即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強随時(shí)間産生脈動。采用數字相關器（digital correlator）技術處理脈沖信号，將(jiāng)光強的波動轉化爲相關函數。自相關函數包含了懸浮顆粒或者溶液中高分子的擴散速度信息，進(jìn)而利用Stokes－Einstein方程計算得出粒子的擴散系數和粒子粒徑Rh及其分布：

1. 90Plus Zeta電位及納米粒度分析儀

2. 90Plus PALS高靈敏Zeta電位及納米粒度分析儀

3. ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位分析儀

    1. 高靈敏性，粒度測量範圍：0.3nm～15μm；

    2. 硬件PALS技術，靈敏度高約1000倍，适用于高鹽濃度、有機溶劑、油相體系；

    3. 可作爲在線檢測器與GPC/SEC連接，并通過(guò)SLS、DLS、光強和粒徑監測聚集過(guò)程；

    4. 綜合多種(zhǒng)粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測量軟件；

    5. 強大的數據分析功能(néng)，可自動研究粒度随時(shí)間、溫度(蛋白熔點)以及其他參數變化的趨勢分析.  

1.脂質體、生物膠體

2.陶瓷

3.顔料、油墨

4.醫藥

5.乳劑（食品、化妝品）

6.廢水處理

7.膠乳

8.炭黑
 

應用案例

    不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點的影響          不同官能(néng)團配比對(duì)等電點的影響         Zeta電位值與細胞吸收度的關系

    通過(guò)調整顆粒的粒徑或正負電荷官能(néng)團的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能(néng)團和顆粒的靜電荷對(duì)動物細胞吸收度有著(zhe)重大影響。（數據摘自JACS）

                        90Plus PALS 電位分析儀技術指标：

*以樣(yàng)品爲準