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Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向(xiàng)光散射技術與傳統動态光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有13°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精确測量,是一款功能(néng)強大的粒度與Zeta電位分析儀。
Brookhaven公司應用光纖技術將(jiāng)背向(xiàng)光散射技術與傳統動态光散射技術進(jìn)行了結合,推出了結合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。随著(zhe)Omni的出現,突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性,實現在同一台粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信号,又可以有效地提高了測量濃度上限,最高可達40%wt;硬件PALS技術(與傳統基于頻移技術的光散射方法相比,靈敏度可提高約1000倍)的應用,解決了長(cháng)期以來無法對(duì)諸如在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近這(zhè)些測量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統方法沒(méi)有足夠的分辨率進(jìn)行測量)的樣(yàng)品進(jìn)行分析的難題。
1.高靈敏性,粒度測量範圍:0.3nm~15μm;
2.三檢測角度設計,測量角度:15°、90°和173°;
3.硬件PALS技術,靈敏度高約1000倍,适用于高鹽濃度、有機溶劑、油相體系;
4.濃度範圍:0.1ppm至40%w/v;
5.可作爲在線檢測器與GPC/SEC連接,并通過(guò)SLS、DLS、光強和粒徑監測聚集過(guò)程;
6.綜合多種(zhǒng)粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測量軟件;
7.強大的數據分析功能(néng),可自動研究粒度随時(shí)間、溫度(蛋白熔點)以及其他參數變化的趨勢分析.
1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束
2.脂質體、外切酶體及其他生物膠體
3.多糖、藥物制備
4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液
5.油包水、水包油體系
6.塗料、顔料、油漆、油墨、調色劑
7.食品、化妝品配方
8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑
應用案例
不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點的影響 不同官能(néng)團配比對(duì)等電點的影響 Zeta電位值與細胞吸收度的關系
通過(guò)調整顆粒的粒徑或正負電荷官能(néng)團的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能(néng)團和顆粒的靜電荷對(duì)動物細胞吸收度有著(zhe)重大影響。(數據摘自JACS)
omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀技術指标:
項目
Omni
功能(néng)
測量的參數
粒度、分子量、A2
Zeta電位、電泳遷移率
粒度及分子量
工作原理
經(jīng)典動态光散射和背向(xiàng)光散射原理
粒度範圍
0.3nm-15μm
散射角
15°、90°和173°
測量精度
1%
絕對(duì)靈敏度
>300 Kcps(甲苯)
濃度範圍
0.1ppm至40%w/v*
最小樣(yàng)品量
10μL
分子量範圍
342~2×107Dalton
數字相關器
4×1011個線性通道(dào),可拓展互相關測量
分析算法
NNLS、CONTIN、Lognormal、蛋白質與聚合物分析模型
Zeta
電位
硬件PALS技術
适用粒度範圍
1nm~100μm
電導率範圍
0-30S/m
電泳遷移率範圍
10-11~10-7m2/V.s
電極
耐腐蝕/有機溶劑電極
系統 參數
激光源
40mW光泵半導體激光器(根據用戶需求,提供激光器選擇)
檢測器
高量子效應雪崩型二極管(APD)
溫度控制
-5~110℃,±0.1℃(溫度範圍可根據客戶要求定制)
冷凝控制
幹燥空氣
分析軟件
Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件
大小及重量
233mm (H) x 427 mm (W) x 481mm (D),15 kg
*以樣(yàng)品爲準
omni
選件
微流變
檢測弱結構溶液的粘彈性信息
表面(miàn)膜電位
固體表面(miàn)膜電位測量
實時(shí)在線測量
粒度及Zeta電位實時(shí)在線測量
自動滴定儀
可對(duì)PH值、電導率和添加劑濃度作圖
介電常數儀
直接測量溶劑的介電常數值
粘度計
用于測量溶劑及溶液的粘度
21CFR軟件
符合FDA要求的21CFR part 11操作軟件和儀器材料
010-51627740