動态光散射(DLS)是目前表征納米顆粒的主流方法。它通過(guò)進(jìn)行布朗運動的微小顆粒對(duì)入射激光束而産生的光強随時(shí)間變化的相關性分析,得到擴散系數D,進(jìn)而通過(guò)Einstain-Stock公式得到等效流體力學(xué)直徑(dh)。 Brookhaven自八十年代初成(chéng)立以來,緻力推動光散射技術在納米顆粒表征領域的技術進(jìn)步與應用發(fā)展,其間每個産品都(dōu)代表這(zhè)業界的最高技術标準。
查看詳情納米顆粒在膠體分散體系中的穩定性是一個标準納米顆粒系統很重要的内容。顆粒表面(miàn)電位,可以表征與控制膠體分散體系的穩定性。測量顆粒表面(miàn)電位是通過(guò)測定Zeta電位來實現的,而用電泳光散射法測定顆粒的電泳速度從而計算出Zeta電位,具有快速、統計精度高、重現性好(hǎo)的優點。
查看詳情高分子聚合物的分子量及其分布決定許多物理性質:随著(zhe)分布的寬度的降低,聚合物的強度和韌性增加;随著(zhe)分布的寬度的降低,聚合物變得更難處理。GPC與多角度光散射檢測器聯用可以提供關鍵信息來預測聚合物的各種(zhǒng)性能(néng)。
查看詳情廣角動靜态光散射系統可以提供多角度的動态、靜态光散射測量,得到包括粒度及其分布、擴散系數、重均分子量、第二維裡(lǐ)系數、回旋半徑以及高分子構象、分形維數等衆多參數。
查看詳情基于全新激光光阻技術(LOT)與專業圖像分析技術的EyeTech系列産品,結合尺寸、粒形和濃度數據,精确完成(chéng)從納米到微米的顆粒表征。EyeTech卓越的靈活性可爲顆粒測量提供多種(zhǒng)選擇。
查看詳情BI-DCP/BI-XDC基于經(jīng)典的離心/沉降原理(Stocks公式),通過(guò)高精度的數字控制,是迄今爲止具有統計意義的粒度儀中分辨率、準确率最高的測量儀器。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面(miàn)。
查看詳情ViewSizer 3000系列産品對(duì)傳統NTA/PTA方法進(jìn)行了全面(miàn)升級和革新,創造性的引入了多光譜測量技術,同時(shí)使用了三隻不同波長(cháng)、功率可控激光器,完美的解決了其他納米顆粒分析技術存在的局限性,可以提供準确、真實的顆粒濃度、粒度及其分布測量
查看詳情