對(duì)于亞微米以上的顆粒粒度測量，有許多表征方法：包括篩分、光學(xué)顯微鏡、沉積、激光衍射、電子和光學(xué)計數器。每種(zhǒng)技術都(dōu)有其優點和缺點：計數方法有著(zhe)很高分辨率，但不能(néng)與顯微鏡載玻片上的氣載顆粒或顆粒一同使用；激光衍射法儀器測量速度很快，簡單易用，重複性也不錯，但是測量分辨率較低；基于離心/沉降方法的儀器具有良好(hǎo)的分辨率和準确性，但測量時(shí)間長(cháng)且操作較繁瑣；顯微鏡測量可以獲得有關形狀的重要信息，但測量相對(duì)較慢，特别是對(duì)于寬分布，需要大量取樣(yàng)速度就(jiù)更慢了。篩分方法非常便宜，但測量分辨率過(guò)低，并且需要使用技巧和長(cháng)期維護。

這(zhè)幾年随著(zhe)相關技術的成(chéng)熟，基于時(shí)間變換的激光光阻技術（TOT）提供了令人興奮的優點：

• 測量是在單個粒子上進(jìn)行的，因此分辨率相對(duì)較高；

• 與區域計數器不同，尺寸不是由脈沖高度決定的，而是由脈沖寬度決定，因此，測量系統無需校準。

• 最重要的是測量結果不依賴與被(bèi)測樣(yàng)品的物理/光學(xué)性質。

LOT 激光光阻法的基本原理：

圖1是基本的光路結構。波長(cháng)λ=632.8nm經(jīng)準直的氦氖激光束通過(guò)楔形棱鏡（WP），該楔形棱鏡使光束偏離光軸，偏轉角爲θd，WP以角頻率m=2πυ旋轉。透鏡（LA）使用焦距爲F的透鏡將(jiāng)光束聚焦爲1.2mm的光斑尺寸（按照1/e2光強），旋轉聚焦的偏轉光束形成(chéng)了空間直徑爲D的圓，爲了簡單起(qǐ)見 ，目前假定D >> dp（dp是顆粒直徑）。 顆粒以各種(zhǒng)方式呈現在光束中：流動或攪拌的液體中; 在光栅掃描的顯微鏡載玻片上;在流動的空氣中; 或者幹脆沉澱在空氣或液體中。光電二極管垂直于光軸放置在顆粒後(hòu)面(miàn)。

在光束穿過(guò)粒子的過(guò)程中，光電二極管上的信号較低。理想情況如圖2所示。通過(guò)測量脈沖寬度并乘以切向(xiàng)速度（VT=ωF tanθd），可以得到光束在粒子上行進(jìn)的距離。 這(zhè)個距離與粒度相等，實際上， LOT技術是從原始數據計算粒度最簡單的方法之一。

  盡管顆粒的折光指數與吸收會(huì)對(duì)信号波形有影響，但是與信号寬度無關。因此LOT方法是真正的絕對(duì)法測量，無需折光/吸光等物理或光學(xué)參數 

   可以對(duì)混合樣(yàng)品進(jìn)行精确測定。

    當掃描顆粒非直徑區域時(shí)，對(duì)脈沖的影響爲：

        - 由于微粒邊沿是沿弦方向(xiàng)而非直徑傾斜，所以脈沖邊緣的陡峭度較小 

        - 脈沖振幅較小，因爲激光光斑可能(néng)不會(huì)完全被(bèi)粒子遮擋，而在其邊緣處穿過(guò)。

圖像法：

    不是所有顆粒都(dōu)是能(néng)夠使用球型模型等效其粒徑的：纖維、棒狀、非規則形狀 -Feret直徑、形狀因子與長(cháng)寬比

對(duì)于纖維樣(yàng)品的表征：LOT+圖像法