顆粒跟蹤分析技術（NTA或PTA），是近年來新興的納米、亞微米顆粒測量技術。原理比較簡單，通過(guò)觀察顆粒在分散相中受到周邊溶液分子撞擊而做出的無規則布朗運動，然後(hòu)使用Stocks-Einstain方程，即可得到被(bèi)觀察/追蹤顆粒的流體力學(xué)半徑/直徑。

因此，通過(guò)超顯微鏡技術，觀察并記錄溶液中的顆粒運動軌迹（散斑），即可得出與之相關的顆粒粒徑數據。由于是對(duì)觀察到的每一個顆粒進(jìn)行跟蹤分析，最終可以提供與常規粒度儀所不同的粒徑數量分布以及顆粒物濃度的分析結果。

但是由于傳統NTA存在很多應用缺陷，傳統測量有時(shí)無法滿足客戶的要求。包括:

    1. 無法對(duì)寬分布樣(yàng)品進(jìn)行可視化表征

    2. 對(duì)于以下測量缺乏精度與重複性:

        - 顆粒數量與濃度

        - 顆粒尺寸度分布

        - 顆粒動力學(xué)過(guò)程

    3. DLS-少數大顆粒將(jiāng)會(huì)影響最終結果

    4. NTA-共存的不同大小顆粒很難全部精确記錄

ViewSizer® 3000系列産品對(duì)傳統NTA/PTA方法進(jìn)行了全面(miàn)升級和革新，創造性的引入了多光譜測量技術，完美的解決了其他納米粒子分析技術存在的局限性。ViewSizer® 3000同時(shí)使用了三隻不同波長(cháng)、功率可控激光器（如下圖所示），主要特點爲：

        - 具有統計意義的逐個粒子檢測方法

        - 納米顆粒可視化，實時(shí)跟蹤運動軌迹

        - 寬分布樣(yàng)品PSD精确測量

        - 顆粒濃度測量

        - 樣(yàng)品中各組份粒度及其分布

        - 樣(yàng)品中各組份顆粒數量與比例

根據顆粒的散射常數（H=4π²n₀²(dn/dc)/(N₀λ₀⁴)），可知單個粒子的散色能(néng)力H與入射光波長(cháng)λ₀ 的4次方成(chéng)反比，因此波長(cháng)較短的藍光散色能(néng)力更強，對(duì)粒徑小的顆粒更敏感；而波長(cháng)較長(cháng)的紅光對(duì)粒徑大的顆粒更敏感，正如上圖所示；ViewSizer^® 3000多光譜顆粒分析儀，能(néng)有效降低大顆粒對(duì)小顆粒散色光強的影響，使其更全面(miàn)、準确的測定多分散樣(yàng)品中不同大小的粒子。

ViewSizer^® 3000,能(néng)對(duì)顆粒進(jìn)行可視化追蹤，如上圖中左圖可以明顯可以看到不同大小的标準納米顆粒；儀器可準确測量寬分布體系中任意單一組份，同時(shí)也能(néng)完成(chéng)對(duì)納米顆粒的精确計數，并最終得到樣(yàng)品濃度，如上圖右圖所示。