先進(jìn)的激光阻隔時(shí)間分析技術（LOT）配合專業圖像分析技術，可快速準确地進(jìn)行從納米到微米的粒度、粒形分析：

      - 監測動力學(xué)過(guò)程

      - 通過(guò)記錄大小vs形狀繪制多維數據

      - 分析複雜數據以反應分布中的次要分布

      - 通過(guò)從數據庫中調用記錄圖片來識别分布中的單個粒子

      - 生成(chéng)标準體積和數量分布結果

      - 通過(guò)使用視頻的精密動态圖像分析技術，準确描述非球形材料

      - 測量結果與顆粒或介質的物理光學(xué)特性無關